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i-IngotKSI 型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)

ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng),適用于對(duì)晶錠的無(wú)損檢測(cè)，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè)，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測(cè)時(shí)間短，也不需要做其它設(shè)定。

更新時(shí)間:2025-07-01

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

Nano型KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)

ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合

更新時(shí)間:2025-07-01

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

V-duo德國(guó)KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)

ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時(shí)使用2只換能器

更新時(shí)間:2025-07-01

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Crossbeam 350，Crossbeam 550德國(guó)ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM

德國(guó)zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550

更新時(shí)間:2025-07-01

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JSM-IT200 InTouchScope日本JEOL掃描電子顯微鏡

日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開(kāi)始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。

更新時(shí)間:2025-07-01

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JSM-IT500HR日本JEOL掃描電子顯微鏡

日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開(kāi)發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。

更新時(shí)間:2025-07-01

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JSM-7900F日本JEOL熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

日本jeol熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f

更新時(shí)間:2025-07-01

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IB-09060CIS日本JEOL低溫冷凍離子切片儀

日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時(shí)間長(zhǎng)，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。

更新時(shí)間:2025-07-01

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EM-09100IS日本JEOL 離子切片儀

日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。

更新時(shí)間:2025-07-01

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IB-19530CP日本JEOL截面樣品拋光儀

日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。

更新時(shí)間:2025-07-01

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IB-19530CP日本JEOL截面樣品制備裝置

日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。

更新時(shí)間:2025-07-01

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IB-19520CCP日本JEOL 截面樣品拋光儀

日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過(guò)程。

更新時(shí)間:2025-07-01

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日本JEOL 軟X射線分析譜儀

日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。和eds一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過(guò)了wds的能量分辨率。

更新時(shí)間:2025-07-01

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JXA-iHP100日本JEOL 電子探針顯微分析儀

日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器，組合使用wds和eds，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。

更新時(shí)間:2025-07-01

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JIB-4000日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)

日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過(guò)與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。

更新時(shí)間:2025-07-01

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JIB-4700F日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)

日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒(méi)式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。

更新時(shí)間:2025-07-01

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀

日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。

更新時(shí)間:2025-07-01

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

EVO 10ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡

zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動(dòng)化工作流程的高清晰掃描電鏡

更新時(shí)間:2025-07-01

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

JSM-IT800SHL日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開(kāi)發(fā)的 neo

更新時(shí)間:2025-07-01

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

JCM-7000日本電子掃描電子顯微鏡

日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強(qiáng)大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無(wú)縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實(shí)現(xiàn)了sem影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的eds成份分析。

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：惠州市華高儀器設(shè)備有限公司

SEM5000X超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

sem5000x是一款超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，其分辨率達(dá)到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設(shè)計(jì)、高壓隧道技術(shù)（supertunnel）以及鏡筒工藝升，實(shí)現(xiàn)了低電壓分辨率的進(jìn)一步提升。全新設(shè)計(jì)的樣品倉(cāng)，擴(kuò)展接口增加至16個(gè)，快速換樣倉(cāng)大支持8寸晶圓（大直徑208 mm），大擴(kuò)展應(yīng)用范圍。高掃描模式和自動(dòng)功能增強(qiáng)，帶來(lái)了更強(qiáng)的性能和更好的體驗(yàn)。

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

DB500聚焦離子束電子束雙束顯微鏡

db500擁有自主可控的場(chǎng)發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒，是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(shù)（supertunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，低電壓高分辨率成像，保證納米分析能力�！俺杏啊彪x子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源，擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流，保證納米加工能力。集成式的納米機(jī)械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機(jī)構(gòu)，擁有24個(gè)擴(kuò)展口，配置全面，自主可控，擴(kuò)展性強(qiáng)，為您打造全能納米分析和加

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

SEM5000國(guó)儀量子高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡sem5000，可實(shí)現(xiàn)低電壓高分辨成像，磁性樣品也可適用，豐富的接口，滿足多樣的需求，精心設(shè)計(jì)的人機(jī)交互方便操作，快速上手

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

SEM3200國(guó)儀量子高分辨低真空鎢燈絲掃描電鏡

sem3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的中盡情探索。

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡

flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡

flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2025-06-30

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司吳江銷(xiāo)售中心

Phenom G6 pureFEI臺(tái)式掃描電鏡Phenom飛納標(biāo)準(zhǔn)版

第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)，適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無(wú)法滿足需求的客戶。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Phenom proFEI臺(tái)式掃描電鏡飛納（Phenom）業(yè)版

第六代 phenom pro 臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大，輕松易用的多功能設(shè)備。長(zhǎng)壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件，phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Phenom proX飛納（Phenom）臺(tái)式掃描電鏡能譜版

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升，易于操作，元素分析更快速。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡

phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Phenom purePhenom臺(tái)式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure

放大倍數(shù)：20000x；分辨率：優(yōu)于30nm；燈絲：1500小時(shí)ceb6燈絲抽真空時(shí)間：10；樣品移動(dòng)方式：自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)樣品定位方式：光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航樣品導(dǎo)電性要求：無(wú)需噴金，直接觀測(cè)絕緣體

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Phenom ProX飛納臺(tái)式掃描電鏡

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升，易于操作，元素分析更快速。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

升版 Phenom ProX飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升，易于操作，元素分析更快速。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

ProX 電鏡能譜一體機(jī)飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom ProX

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升，易于操作，元素分析更快速。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Phenom Pro飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡業(yè)版Pro

第六代 phenom pro 臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大，輕松易用的多功能設(shè)備。長(zhǎng)壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件，phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Phenom Pure飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure

第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Pro飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pro

第六代 phenom pro 臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大，輕松易用的多功能設(shè)備。長(zhǎng)壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件，phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。

更新時(shí)間:2025-06-27

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

高分辨率業(yè)版 Pro飛納臺(tái)式掃描電鏡Phenom Pro

飛納掃描電鏡是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。

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Phenom XL飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom XL

全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息，是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像，平均成像時(shí)間僅為 40 ，比市場(chǎng)上其他臺(tái)式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對(duì)大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析，8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。利設(shè)計(jì)的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)全快的放氣/裝載速度，并獲得大的樣品吞吐效率。

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ProX飛納臺(tái)式掃描電鏡電鏡能譜一體機(jī)

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升，易于操作，元素分析更快速。

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高分辨率業(yè)版 Phenom Pro飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡 Phenom Pro

飛納高分辨率業(yè)版 phenom pro 是飛納電鏡系列中先進(jìn)的產(chǎn)品，第五代 phenom pro 放大倍數(shù)提升為 150,000 倍，分辨率優(yōu)于 8 nm，30 快速得到表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像

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Phenom XL飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室卓越版

全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息，是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像，平均成像時(shí)間僅為 40 ，比市場(chǎng)上其他臺(tái)式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對(duì)大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析，8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。利設(shè)計(jì)的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)全快的放氣/裝載速度，并獲得大的樣品吞吐效率。

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電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX

飛納電鏡能譜一體機(jī) phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。

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Phenom XL飛納臺(tái)式掃描電鏡

荷蘭飛納公司隆重推出飛納卓越版飛納臺(tái)式掃描電鏡 phenom xl

更新時(shí)間:2025-06-27

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SU8200系列日立超高分辨率掃描電子顯微鏡 SU8200系列

這種新型的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍采用日立專(zhuān)利的“柔性閃爍”“mild flashing”技術(shù)和全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)，在發(fā)射極尖端極大限度減少氣體分子附著。發(fā)射極始終運(yùn)行于“潔凈”的狀態(tài)，發(fā)射電流和電子束穩(wěn)定性顯著提升。即使在低加速電壓下，也可以得到高信噪比的sem信號(hào)并進(jìn)行高分辨觀察。這些增強(qiáng)性能開(kāi)辟了低電壓下元素微量分析的全新里程。

更新時(shí)間:2025-06-25

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海昊擴(kuò)科技發(fā)展有限公司

SU9000日立超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU9000

專(zhuān)門(mén)為電子束敏感樣品和需最大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。

更新時(shí)間:2025-06-25

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Lightsheet 7Lightsheet 7 蔡司光切激光片層掃描顯微鏡

蔡司lightsheet 7激光片層掃描顯微系統(tǒng)，助您便捷地實(shí)現(xiàn)活體和透明化樣品的多視角成像。設(shè)計(jì)的物鏡能夠匹配透明化樣品的折射率，從厘米大尺寸的樣品，到多維時(shí)空的活體成像，無(wú)論是觀察長(zhǎng)達(dá)數(shù)天的生物發(fā)育過(guò)程，還是捕捉快速運(yùn)動(dòng)的血流心跳，都能助您游刃有余完成。無(wú)需頻繁更換物鏡和樣品倉(cāng)，提升效率，在簡(jiǎn)單調(diào)焦中實(shí)現(xiàn)理想光切。無(wú)需再為制備樣品而煩惱，操作簡(jiǎn)便。

更新時(shí)間:2025-06-24

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：卡爾蔡司（上海）管理有限公司