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掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家
i-Wafer德國KSI 型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
i-IngotKSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達450mm,檢測時間短,也不需要做其它設定。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
Nano型KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
V-duo德國KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
Crossbeam 350,Crossbeam 550德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JSM-IT200 InTouchScope日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JSM-IT500HR日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JSM-7900F日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
IB-09060CIS日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
EM-09100IS日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
IB-19530CP日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
IB-19530CP日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
IB-19520CCP日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機,實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JXA-iHP100日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JIB-4000日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JIB-4700F日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
EVO 10ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JSM-IT800SHL日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設計的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:
2025-07-01
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JCM-7000日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能,讓您從光學顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
惠州市華高儀器設備有限公司
SEM5000X超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡
sem5000x是一款超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,其分辨率達到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設計、高壓隧道技術(shù)(supertunnel)以及鏡筒工藝升,實現(xiàn)了低電壓分辨率的進一步提升。全新設計的樣品倉,擴展接口增加至16個,快速換樣倉大支持8寸晶圓(大直徑208 mm),大擴展應用范圍。高掃描模式和自動功能增強,帶來了更強的性能和更好的體驗。
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
國儀量子技術(shù) (合肥) 股份有限公司
DB500聚焦離子束電子束雙束顯微鏡
db500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒,是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(shù)(supertunnel)、低像差無漏磁物鏡設計,低電壓高分辨率成像,保證納米分析能力!俺杏啊彪x子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源,擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流,保證納米加工能力。集成式的納米機械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機構(gòu),擁有24個擴展口,配置全面,自主可控,擴展性強,為您打造全能納米分析和加
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
國儀量子技術(shù) (合肥) 股份有限公司
SEM5000國儀量子高分辨率場發(fā)射掃描電鏡
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000,可實現(xiàn)低電壓高分辨成像,磁性樣品也可適用,豐富的接口,滿足多樣的需求,精心設計的人機交互方便操作,快速上手
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
國儀量子技術(shù) (合肥) 股份有限公司
SEM3200國儀量子高分辨低真空鎢燈絲掃描電鏡
sem3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的中盡情探索。
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
國儀量子技術(shù) (合肥) 股份有限公司
FlexSEM1000 II供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州佐藤精密儀器有限公司
TM4000Ⅱ供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州佐藤精密儀器有限公司
FlexSEM1000 II供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州科帝斯懷特工業(yè)設備有限公司
TM4000Ⅱ供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州科帝斯懷特工業(yè)設備有限公司
TM4000Ⅱ供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:
2025-06-30
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州科帝斯懷特工業(yè)設備有限公司吳江銷售中心
Phenom G6 pureFEI臺式掃描電鏡Phenom飛納 標準版
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點,適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom proFEI臺式掃描電鏡飛納(Phenom) 業(yè)版
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設備的功能,結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom proX飛納(Phenom)臺式掃描電鏡 能譜版
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom 飛納煙草紙張領域掃描電子顯微鏡Phenom 飛納煙草紙張領域掃描電子顯微鏡
phenom 飛納煙草紙張領域掃描電子顯微鏡
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom purePhenom臺式掃描電子顯微鏡標準版Pure
放大倍數(shù):20000x;分辨率:優(yōu)于30nm;燈絲:1500小時ceb6燈絲抽真空時間:10;樣品移動方式:自動馬達樣品臺樣品定位方式:光學和低倍電子雙重導航樣品導電性要求:無需噴金,直接觀測絕緣體
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom ProX飛納臺式掃描電鏡
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
升版 Phenom ProX飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
ProX 電鏡能譜一體機飛納臺式掃描電鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom Pro飛納臺式掃描電子顯微鏡業(yè)版Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom Pure飛納臺式掃描電子顯微鏡標準版Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm,同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Pro飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
高分辨率業(yè)版 Pro飛納臺式掃描電鏡Phenom Pro
飛納掃描電鏡是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom XL飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL
全新的易于學習的界面可幫助您快速掌握新信息,是各種應用的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像,平均成像時間僅為 40 ,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對大 100 x 100mm 的樣品進行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細節(jié)。利設計的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實現(xiàn)全快的放氣/裝載速度,并獲得大的樣品吞吐效率。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
ProX飛納臺式掃描電鏡電鏡能譜一體機
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
高分辨率業(yè)版 Phenom Pro飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom Pro
飛納高分辨率業(yè)版 phenom pro 是飛納電鏡系列中先進的產(chǎn)品,第五代 phenom pro 放大倍數(shù)提升為 150,000 倍,分辨率優(yōu)于 8 nm,30 快速得到表面細節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom XL飛納臺式掃描電鏡大樣品室卓越版
全新的易于學習的界面可幫助您快速掌握新信息,是各種應用 的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像,平均成像時間僅為 40 ,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對大 100 x 100mm 的樣品進行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細節(jié)。利設計的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實現(xiàn)全 快的放氣/裝載速度,并獲得大的樣品吞吐效率。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
電鏡能譜一體機 Phenom ProX飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
飛納電鏡能譜一體機 phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng),既可觀察樣品的表面形貌,又可分析其元素組分。
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
Phenom XL飛納臺式掃描電鏡
荷蘭飛納公司隆重推出飛納卓越版飛納臺式掃描電鏡 phenom xl
更新時間:
2025-06-27
該公司產(chǎn)品分類:
復納科學儀器(上海)有限公司
SU8200系列日立超高分辨率掃描電子顯微鏡 SU8200系列
這種新型的冷場發(fā)射電子槍采用日立專利的“柔性閃爍”“mild flashing”技術(shù)和全新改進的真空系統(tǒng),在發(fā)射極尖端極大限度減少氣體分子附著。 發(fā)射極始終運行于“潔凈”的狀態(tài),發(fā)射電流和電子束穩(wěn)定性顯著提升。 即使在低加速電壓下,也可以得到高信噪比的sem信號并進行高分辨觀察。 這些增強性能開辟了低電壓下元素微量分析的全新里程。
更新時間:
2025-06-25
該公司產(chǎn)品分類:
上海昊擴科技發(fā)展有限公司
SU9000日立超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU9000
專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進半導體器件,高分辨成像所設計。
更新時間:
2025-06-25
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上海昊擴科技發(fā)展有限公司
共636條
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