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其他產(chǎn)品及廠家

紅外線測(cè)溫儀TM-656科電儀器
小巧的tm-656測(cè)量范圍:-50~316℃,物距比:12:1,擁有極簡(jiǎn)的操作,您只需使用一只手就可完成全部的操作應(yīng)用。tm-656在您無(wú)操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī),方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換,背光顯示,鐳射制式,這一切都為您的溫度測(cè)量工作帶來(lái)的享受。
更新時(shí)間:2025-08-11
紅外線測(cè)溫儀TM-643科電正品
經(jīng)濟(jì)型tm643紅外線測(cè)溫儀測(cè)量范圍:-32~760℃,物距比:12:1,為目前市面上價(jià)格最底的高品質(zhì)低端紅外測(cè)溫儀。 tm643紅外線測(cè)溫儀具有4位背光lcd顯示,激光瞄準(zhǔn),可自動(dòng)關(guān)機(jī)。 接觸非接觸兩用。tm-643可連接熱電偶,為您實(shí)現(xiàn)接觸和非接觸雙重測(cè)量方式。
更新時(shí)間:2025-08-11
紅外線測(cè)溫儀TM-660科電正品
tm-660測(cè)量范圍:-50~999℃,物距比:12:1,在您無(wú)操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī),方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換,背光顯示,鐳射制式,這一切都為您的溫度測(cè)量工作帶來(lái)的享受。
更新時(shí)間:2025-08-11
紅外線測(cè)溫儀TM-672科電正品
tm-672紅外測(cè)溫儀測(cè)溫范圍:-32 ~ 1300℃,距離系數(shù):30:1近20年來(lái),非接觸紅外測(cè)溫儀在技術(shù)上得到迅速發(fā)展,性能不斷完善,功能不斷增強(qiáng),品種不斷增多,適用范圍也不斷擴(kuò)大,市場(chǎng)占有率逐年增長(zhǎng)。比起接觸式測(cè)溫方法,紅外測(cè)溫有著響應(yīng)時(shí)間快、非接觸、使用安全及使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-08-11
紫外線照度計(jì)UVAB-513科電儀器
人性化操作:uvab-513小巧靈活,可以單手操作,探頭與機(jī)體分離,方便簡(jiǎn)捷,更有自動(dòng)記憶功能,可存儲(chǔ)20組數(shù)據(jù),方便您的數(shù)據(jù)處理工作。
更新時(shí)間:2025-08-11
照度計(jì)白光照度計(jì)LX-101科電儀器
傳感器使用獨(dú)特的照相二極管和顏色修正濾波器,適用c.i.e.照片頻譜。 傳感器cmos修正因子,滿足標(biāo)準(zhǔn)。 分離的亮度傳感器,允許用戶采取合適位置測(cè)量。 精確、方便的讀數(shù)顯示,寬量程。
更新時(shí)間:2025-08-11
噪音計(jì)(聲級(jí)計(jì))SL-4030科電儀器
測(cè)量范圍:30~130db(分貝). 測(cè)量頻率范圍:31.5~8000hz. 精確度:±1.5db(94db/1khz)
更新時(shí)間:2025-08-11
酸堿計(jì)PH-206科電正品
可采用自動(dòng)或手動(dòng)溫度補(bǔ)償
更新時(shí)間:2025-08-11
測(cè)速計(jì)RM-722科電產(chǎn)品
使用方便:rm-722是高品質(zhì)高性價(jià)比手持式儀器,體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊,使用及攜帶方便靈活,單手即可操作。即可手持測(cè)量也可固定使用。 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):rm-722可以為您存儲(chǔ)10組值、10組值、10組平均值及10組測(cè)量值,共20組數(shù)據(jù)。方便您的數(shù)據(jù)記錄 省電設(shè)計(jì):rm-722在您無(wú)操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī),方便省電。
更新時(shí)間:2025-08-11
轉(zhuǎn)速計(jì)RM-723科電儀器
兩種測(cè)量方式:連接探頭,rm-723即可為您實(shí)現(xiàn)接觸式測(cè)量,幫助您應(yīng)對(duì)更多環(huán)境。 使用方便:rm-72x是高品質(zhì)高性價(jià)比手持式儀器,體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊,使用及攜帶方便靈活,單手即可操作。即可手持測(cè)量也可固定使用。
更新時(shí)間:2025-08-11
震動(dòng)計(jì)VB-8200科電儀器
* 工業(yè)振動(dòng)探測(cè)應(yīng)用 (所有的工業(yè)機(jī)器都會(huì)振動(dòng)。振動(dòng)幅度可以反映機(jī)器的情況。平衡性差,定位不準(zhǔn),零件的松動(dòng)都會(huì)造成振動(dòng)的增加,這就表示機(jī)器需要維修。)
更新時(shí)間:2025-08-11
MC-2000D型涂(鍍)層測(cè)厚儀  鋼結(jié)構(gòu)防火層測(cè)厚儀
mc-2000d型涂(鍍)層測(cè)厚儀 鋼結(jié)構(gòu)防火層測(cè)厚儀1、測(cè)量范圍:  10~9000um2、測(cè)量誤差:  <3%±1um3、小示值:  1um4、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示
更新時(shí)間:2025-08-11
RAY-3000A個(gè)人劑量報(bào)警儀
ray-3000a個(gè)人劑量報(bào)警儀(射線報(bào)警儀)是一款便攜式小型儀器,利用新型單片機(jī)技術(shù)制作而成,可在較惡劣環(huán)境下工作,具有抗干擾力,主要用來(lái)檢測(cè)χ射線和γ射線,從漢顯液晶屏能直接讀出射線“劑量率”;射線“累積劑量”。
更新時(shí)間:2025-08-11
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具,硬件測(cè)試,ddr測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
更新時(shí)間:2025-08-08
防腐層撿漏儀北京廠家
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6(a/b)型電火花檢漏儀檢測(cè)厚度:0.05~10mm,輸出電壓:0.6kv~30kv,dj-6(a)檢測(cè)厚度:0.03~1.5mm,輸出高壓:600v~8000v 是用于檢測(cè)金屬防腐涂層質(zhì)量的專用儀器,使用本儀器可以對(duì)不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層,進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-08-08
表面粗糙度儀
美國(guó)lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國(guó)lee公司新出的新一代粗糙度儀,也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍寬、操作簡(jiǎn)便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn),可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測(cè),該粗糙度儀是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式粗糙度儀,具有手持式特點(diǎn),更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計(jì),堅(jiān)固耐用,抗電磁干擾能力顯著,符合當(dāng)今設(shè)計(jì)新趨勢(shì)。
更新時(shí)間:2025-08-08
PTL溫升測(cè)試角進(jìn)口測(cè)試角
ptl溫升測(cè)試角,進(jìn)口測(cè)試角,ptl溫度測(cè)試角,p06系列測(cè)試角
更新時(shí)間:2025-08-08
德國(guó)PTL插頭力矩試驗(yàn)儀
更新時(shí)間:2025-08-08
德國(guó)PTL試驗(yàn)彎指
更新時(shí)間:2025-08-08
低阻抗率計(jì) MCP-型 (手提式)
商品名稱:低阻抗率計(jì) mcp-t370型 (手提式)loresta-ax特色:維持安定之高質(zhì)量,依據(jù)之四探針理論之高精度之阻抗率計(jì)操作簡(jiǎn)單,現(xiàn)場(chǎng)使用攜帶型方便,用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理測(cè)定范圍:10-2~106ω資料輸出:usb memory體積:約 228 w× 85 d× 65 hmm, 420g標(biāo)準(zhǔn)配備
更新時(shí)間:2025-08-08
城市道路積水監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
城市道路積水監(jiān)測(cè)系統(tǒng)是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產(chǎn),可以及時(shí)避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經(jīng)濟(jì)損失。
更新時(shí)間:2025-08-08
MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中,這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 MIPI驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-08-07
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
更新時(shí)間:2025-08-07
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-08-07
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-08-07
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過(guò)軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏 初始化指令問(wèn)題
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來(lái)說(shuō),只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-08-07
ETS-LINDGREN近場(chǎng)探頭,硬件測(cè)試,開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-08-07
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測(cè)試,開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-08-07
出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具
出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具
更新時(shí)間:2025-08-07
梅特勒電極(有問(wèn)題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問(wèn)題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí),焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線,而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上,整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開(kāi),屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上,中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本,低衰減比,缺點(diǎn)是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-08-07
Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō),emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫(xiě)均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-08-07

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑