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其他產(chǎn)品及廠家

紅外線測溫儀TM-630經(jīng)濟(jì)型
經(jīng)濟(jì)型tm630紅外線測溫儀測量范圍:-20~320℃,物距比:12:1,為目前市面上價(jià)格最底的高品質(zhì)低端紅外測溫儀。tm630紅外線測溫儀具有4位背光lcd顯示,激光瞄準(zhǔn),可自動(dòng)關(guān)機(jī)。tm630紅外線測溫儀由數(shù)十名質(zhì)深的專家根據(jù)人體工程學(xué)原理設(shè)計(jì),外觀小巧流暢。tm630紅外線測溫儀是現(xiàn)場測量及居家的產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-08-11
紅外線測溫儀TM-656科電儀器
小巧的tm-656測量范圍:-50~316℃,物距比:12:1,擁有極簡的操作,您只需使用一只手就可完成全部的操作應(yīng)用。tm-656在您無操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī),方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換,背光顯示,鐳射制式,這一切都為您的溫度測量工作帶來的享受。
更新時(shí)間:2025-08-11
紅外線測溫儀TM-643科電正品
經(jīng)濟(jì)型tm643紅外線測溫儀測量范圍:-32~760℃,物距比:12:1,為目前市面上價(jià)格最底的高品質(zhì)低端紅外測溫儀。 tm643紅外線測溫儀具有4位背光lcd顯示,激光瞄準(zhǔn),可自動(dòng)關(guān)機(jī)。 接觸非接觸兩用。tm-643可連接熱電偶,為您實(shí)現(xiàn)接觸和非接觸雙重測量方式。
更新時(shí)間:2025-08-11
紅外線測溫儀TM-660科電正品
tm-660測量范圍:-50~999℃,物距比:12:1,在您無操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī),方便省電。兩種溫度制式轉(zhuǎn)換,背光顯示,鐳射制式,這一切都為您的溫度測量工作帶來的享受。
更新時(shí)間:2025-08-11
紅外線測溫儀TM-672科電正品
tm-672紅外測溫儀測溫范圍:-32 ~ 1300℃,距離系數(shù):30:1近20年來,非接觸紅外測溫儀在技術(shù)上得到迅速發(fā)展,性能不斷完善,功能不斷增強(qiáng),品種不斷增多,適用范圍也不斷擴(kuò)大,市場占有率逐年增長。比起接觸式測溫方法,紅外測溫有著響應(yīng)時(shí)間快、非接觸、使用安全及使用壽命長等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-08-11
紫外線照度計(jì)UVAB-513科電儀器
人性化操作:uvab-513小巧靈活,可以單手操作,探頭與機(jī)體分離,方便簡捷,更有自動(dòng)記憶功能,可存儲(chǔ)20組數(shù)據(jù),方便您的數(shù)據(jù)處理工作。
更新時(shí)間:2025-08-11
照度計(jì)白光照度計(jì)LX-101科電儀器
傳感器使用獨(dú)特的照相二極管和顏色修正濾波器,適用c.i.e.照片頻譜。 傳感器cmos修正因子,滿足標(biāo)準(zhǔn)。 分離的亮度傳感器,允許用戶采取合適位置測量。 精確、方便的讀數(shù)顯示,寬量程。
更新時(shí)間:2025-08-11
噪音計(jì)(聲級(jí)計(jì))SL-4030科電儀器
測量范圍:30~130db(分貝). 測量頻率范圍:31.5~8000hz. 精確度:±1.5db(94db/1khz)
更新時(shí)間:2025-08-11
酸堿計(jì)PH-206科電正品
可采用自動(dòng)或手動(dòng)溫度補(bǔ)償
更新時(shí)間:2025-08-11
測速計(jì)RM-722科電產(chǎn)品
使用方便:rm-722是高品質(zhì)高性價(jià)比手持式儀器,體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊,使用及攜帶方便靈活,單手即可操作。即可手持測量也可固定使用。 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):rm-722可以為您存儲(chǔ)10組值、10組值、10組平均值及10組測量值,共20組數(shù)據(jù)。方便您的數(shù)據(jù)記錄 省電設(shè)計(jì):rm-722在您無操作后6秒自動(dòng)關(guān)機(jī),方便省電。
更新時(shí)間:2025-08-11
轉(zhuǎn)速計(jì)RM-723科電儀器
兩種測量方式:連接探頭,rm-723即可為您實(shí)現(xiàn)接觸式測量,幫助您應(yīng)對(duì)更多環(huán)境。 使用方便:rm-72x是高品質(zhì)高性價(jià)比手持式儀器,體積小巧、結(jié)構(gòu)緊湊,使用及攜帶方便靈活,單手即可操作。即可手持測量也可固定使用。
更新時(shí)間:2025-08-11
震動(dòng)計(jì)VB-8200科電儀器
* 工業(yè)振動(dòng)探測應(yīng)用 (所有的工業(yè)機(jī)器都會(huì)振動(dòng)。振動(dòng)幅度可以反映機(jī)器的情況。平衡性差,定位不準(zhǔn),零件的松動(dòng)都會(huì)造成振動(dòng)的增加,這就表示機(jī)器需要維修。)
更新時(shí)間:2025-08-11
MC-2000D型涂(鍍)層測厚儀  鋼結(jié)構(gòu)防火層測厚儀
mc-2000d型涂(鍍)層測厚儀 鋼結(jié)構(gòu)防火層測厚儀1、測量范圍:  10~9000um2、測量誤差:  <3%±1um3、小示值:  1um4、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示
更新時(shí)間:2025-08-11
RAY-3000A個(gè)人劑量報(bào)警儀
ray-3000a個(gè)人劑量報(bào)警儀(射線報(bào)警儀)是一款便攜式小型儀器,利用新型單片機(jī)技術(shù)制作而成,可在較惡劣環(huán)境下工作,具有抗干擾力,主要用來檢測χ射線和γ射線,從漢顯液晶屏能直接讀出射線“劑量率”;射線“累積劑量”。
更新時(shí)間:2025-08-11
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動(dòng)測試
更新時(shí)間:2025-08-08
防腐層撿漏儀北京廠家
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6(a/b)型電火花檢漏儀檢測厚度:0.05~10mm,輸出電壓:0.6kv~30kv,dj-6(a)檢測厚度:0.03~1.5mm,輸出高壓:600v~8000v 是用于檢測金屬防腐涂層質(zhì)量的專用儀器,使用本儀器可以對(duì)不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層,進(jìn)行質(zhì)量檢測。
更新時(shí)間:2025-08-08
表面粗糙度儀
美國lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國lee公司新出的新一代粗糙度儀,也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn),可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測,該粗糙度儀是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式粗糙度儀,具有手持式特點(diǎn),更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計(jì),堅(jiān)固耐用,抗電磁干擾能力顯著,符合當(dāng)今設(shè)計(jì)新趨勢(shì)。
更新時(shí)間:2025-08-08
德國PTL五檔可調(diào)彈簧沖擊錘
更新時(shí)間:2025-08-08
PTL溫升測試角進(jìn)口測試角
ptl溫升測試角,進(jìn)口測試角,ptl溫度測試角,p06系列測試角
更新時(shí)間:2025-08-08
德國PTL插頭力矩試驗(yàn)儀
更新時(shí)間:2025-08-08
德國PTI表面粗糙度測試儀62600
更新時(shí)間:2025-08-08
德國PTL試驗(yàn)彎指
更新時(shí)間:2025-08-08
低阻抗率計(jì) MCP-型 (手提式)
商品名稱:低阻抗率計(jì) mcp-t370型 (手提式)loresta-ax特色:維持安定之高質(zhì)量,依據(jù)之四探針理論之高精度之阻抗率計(jì)操作簡單,現(xiàn)場使用攜帶型方便,用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理測定范圍:10-2~106ω資料輸出:usb memory體積:約 228 w× 85 d× 65 hmm, 420g標(biāo)準(zhǔn)配備
更新時(shí)間:2025-08-08
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產(chǎn),可以及時(shí)避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經(jīng)濟(jì)損失。
更新時(shí)間:2025-08-08
MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個(gè)測量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
更新時(shí)間:2025-08-07
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
更新時(shí)間:2025-08-07
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-08-07
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-08-07
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-08-07
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-08-07
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-08-07
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-08-07
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時(shí)間:2025-08-07
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC 上電時(shí)序測試 電源紋波測試
emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí),焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上,整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
emmc 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本,低衰減比,缺點(diǎn)是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-08-07
Emmc5 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-08-07
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-08-07

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