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華測絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 測量印刷電路板高密度封裝材料

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

更新時間:2025-07-04

該公司產(chǎn)品分類：北京華測試驗儀器有限公司

HCLD-2華測儀器 HCLD-2 漏電起痕測試系統(tǒng) 測試半導(dǎo)體封裝材料試驗電壓25~800V可調(diào)

低壓漏電起痕試驗儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬仿真試驗項目。耐漏電起痕試驗（電痕化指數(shù)試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸的鉑電極之間，施加某一電壓并定時 (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體，用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數(shù) (ct1) 和耐電痕化指數(shù)(pt1) 。

更新時間:2025-07-04

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Huace-AT300040通道同步測量與8通道電化學(xué)分析華測 Huace-AT3000 傳感器多功能綜合測試系統(tǒng)

傳感器多功能綜合測試系統(tǒng)是一款高度集成化、多參數(shù)協(xié)同檢測的設(shè)備，專為材料科學(xué)、電子器件、能源及傳感技術(shù)領(lǐng)域的復(fù)雜測試需求設(shè)計。融合溫度、電阻、電容、壓電、電化學(xué)五大測試模塊，支持40通道同步測量與8通道化學(xué)分析，覆蓋-20℃至500℃寬溫區(qū)、10pa至1a寬量程、20hz至10mhz寬頻段等參數(shù)，可完成材料介電特性、傳感器動態(tài)響應(yīng)、電化學(xué)行為等多維度表征。

更新時間:2025-07-04

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Huace-AT3000華測 Huace-AT3000 傳感器多功能綜合測試系統(tǒng) 完成材料介電特性傳感器動態(tài)響應(yīng) 電化學(xué)行為等多維度表征

傳感器多功能綜合測試系統(tǒng)是一款高度集成化、多參數(shù)協(xié)同檢測的設(shè)備，專為材料科學(xué)、電子器件、能源及傳感技術(shù)領(lǐng)域的復(fù)雜測試需求設(shè)計。融合溫度、電阻、電容、壓電、電化學(xué)五大測試模塊，支持40通道同步測量與8通道化學(xué)分析，覆蓋-20℃至500℃寬溫區(qū)、10pa至1a寬量程、20hz至10mhz寬頻段等參數(shù)，可完成材料介電特性、傳感器動態(tài)響應(yīng)、電化學(xué)行為等多維度表征。

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Huace-AT3000華測 Huace-AT3000 傳感器多功能綜合測試系統(tǒng) 高性能工作站與智能化測控軟件

傳感器多功能綜合測試系統(tǒng)是一款高度集成化、多參數(shù)協(xié)同檢測的設(shè)備，專為材料科學(xué)、電子器件、能源及傳感技術(shù)領(lǐng)域的復(fù)雜測試需求設(shè)計。融合溫度、電阻、電容、壓電、電化學(xué)五大測試模塊，支持40通道同步測量與8通道化學(xué)分析，覆蓋-20℃至500℃寬溫區(qū)、10pa至1a寬量程、20hz至10mhz寬頻段等參數(shù)，可完成材料介電特性、傳感器動態(tài)響應(yīng)、電化學(xué)行為等多維度表征。

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HC-RD-1100華測儀器塞貝克系數(shù)電阻測試儀 HC-RD-1100 測量半導(dǎo)體薄膜材料

華測儀器的hc-rd-1100可以同時測定樣品在rt至1500°c溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。熱功率、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是v/k。

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Huace 熱釋電系數(shù)測試儀華測Huace 電荷積分法測量鐵電晶體材料熱釋電

1.鐵電的評價與測試2.壓電材料的評價與測試3.壓電陶瓷的評價與測試4.高分子的評價與測試5.相關(guān)器件性能的評價與測試

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HPZT-200華測儀器鋯鈦酸鉛材料 D31 D33壓電系數(shù)測試儀

d33準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)試驗儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后，就具有了各向異性，每項性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多�？煽v向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，同時也直接影響著換能器的性能參數(shù)。

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HPZT-200準(zhǔn)靜態(tài)壓電測試儀華測功能材料D33壓電系數(shù)測試設(shè)備

d33準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)試驗儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后，就具有了各向異性，每項性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多�？煽v向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，同時也直接影響著換能器的性能參數(shù)。

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HPZT-200靜態(tài)電壓系數(shù)D33測量儀華測儀器 HPZT-200 壓電陶瓷系數(shù)測試儀

d33準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)試驗儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后，就具有了各向異性，每項性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多�？煽v向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，同時也直接影響著換能器的性能參數(shù)。

更新時間:2025-07-04

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Huace華測儀器 19寸觸摸屏絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

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HCWP-1000華測 HCWP-1000 高低溫介電溫譜儀頻譜測試介電溫譜

1.溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍2.消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響3.消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能，更強數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽4.專用高頻測試線纜，更適合高頻測量

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HCWP-1000華測儀器 HCWP-1000 高溫介電溫譜測試儀高溫氣氛測量溫譜儀一機多用

1.溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍2.消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響3.消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能，更強數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽4.專用高頻測試線纜，更適合高頻測量

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HCWP-1000華測 HCWP-1000 高溫介電溫譜試驗機真空氣氛機電耦合系數(shù) 介電常數(shù) 介電損耗

1.溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍2.消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響3.消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能，更強數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽4.專用高頻測試線纜，更適合高頻測量

更新時間:2025-07-04

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HCWP-1000華測 HCWP-1000 高溫介電溫譜儀絕緣材料溫度電性能介電溫譜設(shè)備

1.溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍2.消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響3.消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能，更強數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽4.專用高頻測試線纜，更適合高頻測量

更新時間:2025-07-04

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HCWP-1000華測 HCWP-1000 測量陶瓷材料高溫介電溫譜測試儀實驗室用可定制

1.溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍2.消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響3.消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能，更強數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽4.專用高頻測試線纜，更適合高頻測量

更新時間:2025-07-04

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HCDJC-150KV華測 HCDJC-150KV 電壓擊穿測試儀云母塑料薄膜陶瓷工頻耐壓試驗儀

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

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HCDJC-150KVHCDJC-150KV 樹脂電壓擊穿強度測試儀試驗電壓150KV

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

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HCDJC-150KV電壓擊穿試驗儀華測 HCDJC-150KV 絕緣漆擊穿電壓試驗機

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

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HCDJC-150KV華測儀器耐電壓時間測試電壓擊穿試驗儀試驗電壓150KV

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

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HCDJC-150KV華測儀器絕緣材料電氣強度試驗儀 HCDJC-150KV 高精度電壓擊穿試驗儀

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

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HCDJC-150KV塑料薄膜電壓擊穿試驗儀150KV 華測儀器多級循環(huán)采集按需定制

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

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HCQD-4華測 HCQD-4 電熱老化試驗平臺測量橡膠塑料材料耐腐蝕性耐老化性穩(wěn)定性

面對材料因結(jié)露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。試驗系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。

更新時間:2025-07-04

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HCQD-4華測 HCQD-4 耐腐蝕老化試驗平臺評估老化腐蝕現(xiàn)象絕緣電阻劣化

面對材料因結(jié)露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。試驗系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。

更新時間:2025-07-04

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HCQD-4華測 HCQD-4 多通道耐腐蝕老化試驗平臺防反水加濕水路系統(tǒng) 可定制

面對材料因結(jié)露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。試驗系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。

更新時間:2025-07-04

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HCQD-4華測 HCQD-4 電熱老化試驗平臺實時監(jiān)控測試動態(tài)補水設(shè)計

面對材料因結(jié)露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。試驗系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。

更新時間:2025-07-04

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HCYD華測高溫壓電系數(shù)測試儀評估壓電材料在高低溫環(huán)境下特性

hcyd高溫壓電系數(shù)測試儀采用fpga數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，配合聲學(xué)與振動公司b&k生產(chǎn)的激振器作為振源，相對傳統(tǒng)的d33測量儀測量精度更高，測量量程更寬，可靠性更高，操作更簡單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能。

更新時間:2025-07-04

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CGO-4華測CGO-4 4英寸真空探針臺測試鐵電陶瓷材料按需定制

低溫真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構(gòu)，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準(zhǔn)確扎到被測點，從而使其訊號線與外部測試機導(dǎo)通，通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。

更新時間:2025-07-04

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CGO-4華測CGO-4 4英寸真空探針臺測試鐵電陶瓷材料按需定制

低溫真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構(gòu)，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準(zhǔn)確扎到被測點，從而使其訊號線與外部測試機導(dǎo)通，通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。

更新時間:2025-07-04

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CGO-4顯微鏡真空探針臺華測 2英寸樣品臺觀察窗口探針設(shè)備

低溫真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構(gòu)，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準(zhǔn)確扎到被測點，從而使其訊號線與外部測試機導(dǎo)通，通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。

更新時間:2025-07-04

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HC-RD-1100華測儀器塞貝克系數(shù)電阻率測試儀塞貝克系數(shù)測量范圍1～2500μV/K

華測儀器的hc-rd-1100可以同時測定樣品在rt至1500°c溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。熱功率、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是v/k。

更新時間:2025-07-04

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Huace-650T華測 Huace-650T 工業(yè)級高低溫冷熱臺智能溫控滿足各種測試需求

huace650t高低溫冷熱臺（可定制）由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，冷熱臺可配合阻抗分析儀、高阻計、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進行功能材料電學(xué)的相關(guān)測試，采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導(dǎo)線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。

更新時間:2025-07-04

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TY-2000D上海統(tǒng)業(yè) T&Y-2000D精密型點膠機

ty-2000d單液定量點膠機介紹：ty-2000d點膠機，也稱定量點膠機，單液點膠機。外型精致美觀，可節(jié)省點膠機的放置空間。點膠時間的控制采用數(shù)字形式顯示，可非常直觀地控制其出膠量。適用于各種工業(yè)流體氣動點膠應(yīng)用，具控制稀釋流體用的真空回吸功能，有定時操作模式和連續(xù)操作模式二種點膠模式；出膠速度快，一用就會，操作簡單。

更新時間:2025-07-04