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出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時(shí)間:2025-07-03
電子式聽漏棒
揚(yáng)州捷通供水技術(shù)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實(shí)質(zhì)上是個(gè)精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進(jìn)的集成性上。
更新時(shí)間:2025-07-03
漏水探測儀高靈敏智能型
jt-1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路,高保真高降噪信號顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機(jī)身。
更新時(shí)間:2025-07-03
漏水探測儀數(shù)字濾波型
jt-5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路,,在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實(shí)時(shí)漏水靈音,高靈敏主動(dòng)式傳感器,光電無觸點(diǎn)手柄開關(guān),大容量鋰離子充電電池。
更新時(shí)間:2025-07-03
手持式地下管道漏水檢測儀
jt-sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜,手持即可檢測,可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏,包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時(shí)間:2025-07-03
管道泄漏檢測儀/漏水檢測儀/測漏儀/漏水探測儀
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術(shù)、現(xiàn)代音頻信號處理技術(shù)、嵌入式微處理器技術(shù)、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術(shù)等當(dāng)先進(jìn)技術(shù),其聽音效果清晰、適合復(fù)雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定,是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進(jìn)測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動(dòng)信號來準(zhǔn)確定位泄漏點(diǎn)的位置。
更新時(shí)間:2025-07-03
供應(yīng)智能型地下管線泄漏探測儀/管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-1a地下管道泄漏檢測儀,是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器,擁有超強(qiáng)的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力,輸出泄漏信號清晰靈敏,操作界面目了然,可以使您的工作更加輕松,它具有以下主要特點(diǎn):微處理器數(shù)字經(jīng)線路,高保真高降噪信號顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機(jī)身。
更新時(shí)間:2025-07-03
供應(yīng)地下管道泄漏檢測儀/手持式管道漏水檢測儀/手持式管道測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點(diǎn)是小巧便攜,手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當(dāng)某處破損泄漏時(shí),壓力水油氣從管道破損處向處噴射,與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動(dòng)會(huì)引起噴注噪聲,這種聲音隨管道向兩側(cè)和埋設(shè)地面上方路面?zhèn)鞑,此時(shí)用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號,通過主機(jī)進(jìn)行放大顯示,并有選擇的過濾噪音,獨(dú)立出泄漏聲波,使操作者找到泄漏源
更新時(shí)間:2025-07-03
供應(yīng)數(shù)字濾波漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/聽漏儀/查漏儀
jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路,在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實(shí)時(shí)漏水錄音,高靈敏主動(dòng)式傳感器,光電無觸點(diǎn)手柄開關(guān),大容量鋰離子充電電池。
更新時(shí)間:2025-07-03
供應(yīng)管道測漏儀/漏水檢測儀/數(shù)字式漏水檢測儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器,也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏,當(dāng)管道內(nèi)流體在壓力下逸出時(shí),產(chǎn)生噪音能沿管道傳播,或沿埋層介質(zhì)傳播到地面,檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點(diǎn)位置。
更新時(shí)間:2025-07-03
供應(yīng)管道漏水檢測儀/自來水管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀,主機(jī)體積只有150mm×70mm×116mm大小,重約870克,攜帶操作為輕巧簡便,整體設(shè)計(jì)采用全金屬外殼,堅(jiān)固耐用。
更新時(shí)間:2025-07-03
流動(dòng)測震儀
bc302流動(dòng)測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機(jī)器狀態(tài)檢測儀器,具有振動(dòng)測量和評價(jià)、軸承狀態(tài)檢測和評價(jià)功能。流動(dòng)測震儀振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,測量準(zhǔn)確測量速度≥1.5m/s,存 儲溫度-10℃~60℃, 用于振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時(shí)間:2025-07-03
超聲波測厚儀
超聲波測厚儀是科電儀器基于安卓系統(tǒng)研發(fā)的智能測厚終端。本儀器具備無線通信功能;可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程交互和云檢測,儀器內(nèi)置“科信”云平臺可以把測量的數(shù)據(jù)/視頻分享給科信工友,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)協(xié)同作業(yè),機(jī)殼采用防水、防塵、防摔的設(shè)計(jì)可以適應(yīng)各種復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場。
更新時(shí)間:2025-07-03
分體式單探頭涂層測厚儀
涂(鍍)層測厚儀是一款基于安卓系統(tǒng)的智能涂(鍍)層厚度檢測終端。本儀器具備無線通信功能,可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程音頻、視頻數(shù)據(jù)的交互;本儀器可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)專家診斷、遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)檢測等功能;本儀器機(jī)殼防護(hù)采用了防水、防塵、防摔的三防設(shè)計(jì),可以適應(yīng)復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場。
更新時(shí)間:2025-07-03
黑白透射密度計(jì)
kodin-h600a配備了進(jìn)口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計(jì)。該款密度計(jì)內(nèi)部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電,在打開觀片區(qū)光源時(shí)可供連續(xù)工作4小時(shí)以上,在關(guān)閉觀片區(qū)光源時(shí)可連續(xù)工作24小時(shí)以上。該款密度計(jì)是科電公司通過大量試驗(yàn),研制的一款高精密儀器。該款密度計(jì)具有體積小、重量輕、操作簡單、攜帶方便、測量準(zhǔn)確度高、長期穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-07-03
LED工業(yè)射線底片觀片燈
kodin g2000c型 led工業(yè)射線底片觀片燈適用于工業(yè)射線照相底片的觀察。
更新時(shí)間:2025-07-03
 回波-回波超聲波測厚儀
超聲波測厚儀hch-30000e/e可有效穿透涂層對基體進(jìn)行測厚,該款儀器是科電公司經(jīng)過半年的努力自主研發(fā)推出的新品。hch-3000e/e采用了單片機(jī)與cpld綜合系統(tǒng)的技術(shù),集發(fā)射-回波模式與回波-回波模式于一身的智能型超聲波測厚儀。它具有輕便且符合人體工程學(xué)的單手操作設(shè)計(jì),為許多需要對疑為帶有涂層的金屬壁變薄的材料所進(jìn)行的快速檢測應(yīng)用,提供了性價(jià)比極高的測量解決方案。
更新時(shí)間:2025-07-03
單晶超聲波測厚儀
kodin-3000hmc是一款高精度智能型超聲波測厚儀,它采用的高速數(shù)據(jù)采集技術(shù),具有a掃,b掃,數(shù)值模式和usb通信等功能于一身。增益實(shí)時(shí)可調(diào),適用于檢測比較薄的鋼板,滅火器等厚度測量
更新時(shí)間:2025-07-03
便攜式測振儀
.kv-3000a測振儀是用于現(xiàn)場機(jī)械振動(dòng)測量與分析應(yīng)用的便攜式測振儀。它運(yùn)用快速傅里葉變換(fft),將時(shí)域信號變換為頻域信號進(jìn)行分析,能快速判定故障原因與位置。
更新時(shí)間:2025-07-03
超聲波探傷儀
6a-ut智聯(lián)型超聲波探傷儀是科電儀器基于安卓系統(tǒng)研發(fā)的智能探傷終端。本儀器具備無線通信功能,可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程交互和云檢測;ips高清彩屏的觸控和實(shí)體按鍵相結(jié)合,讓人機(jī)交互更方便;可提供專業(yè)化的量身定制服務(wù),無線升級更高效;機(jī)殼采用防水、防塵、防摔設(shè)計(jì),可適應(yīng)各種復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場
更新時(shí)間:2025-07-03
便攜式黑白透射密度計(jì)
kodin-h600配備了進(jìn)口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計(jì)。該款密度計(jì)內(nèi)部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電,在打開觀片區(qū)光源時(shí)可供連續(xù)工作4小時(shí)以上,在關(guān)閉觀片區(qū)光源時(shí)可連續(xù)工作24小時(shí)以上。該款密度計(jì)是科電公司通過大量試驗(yàn),研制的一款高精密儀器。該款密度計(jì)具有體積小、重量輕、操作簡單、攜帶方便、測量準(zhǔn)確度高、長期穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-07-03
濕海綿針孔檢漏儀
sj-6濕海綿針孔檢漏儀是一款多檔位的檢漏儀,它應(yīng)用濕海綿測試技術(shù),用于測量導(dǎo)電基體上500微米以下的絕緣涂層的針孔、縫隙、破損等缺陷。
更新時(shí)間:2025-07-03
超聲波測厚儀
kodin 3a-hc超聲波測厚儀是科電儀器基于互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)傾力打造的智能檢測終端。本儀器具備無線通信功能;融入了工業(yè)設(shè)計(jì)理念,機(jī)殼設(shè)計(jì)遵循了人體工程學(xué)貼合了工業(yè)現(xiàn)場的操作習(xí)慣,機(jī)殼防護(hù)采用了防水、防塵、防摔的設(shè)計(jì)可以適應(yīng)各種復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場。
更新時(shí)間:2025-07-03
涂層測厚儀
kodin 3a-mc涂(鍍)層測厚儀是一款基于安卓系統(tǒng)的智能涂(鍍)層厚度檢測終端。本儀器具備無線通信功能,可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程音頻、視頻數(shù)據(jù)的交互;本儀器可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)專家診斷、遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)檢測等功能;本儀器機(jī)殼防護(hù)采用了防水、防塵、防摔的三防設(shè)計(jì),可以適應(yīng)復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場。
更新時(shí)間:2025-07-03
管道防腐層檢漏儀
kodin 9b-fm/s150管道防腐層檢漏儀采用多頻管中電流衰減法(pcm)和交流電位梯度法(acvg)檢測技術(shù),可以完成長輸油氣管線的路由定位和深度測量、精確定位、破損點(diǎn)檢測定位、外防腐層老化狀況的定量評估、診斷陰極保護(hù)系統(tǒng)故障、各類新鋪設(shè)管道的防腐層施工質(zhì)量驗(yàn)收等工作。
更新時(shí)間:2025-07-03
電火花檢漏儀
kodin-6dj-30型電火花檢漏儀是一款脈沖高壓儀器,采用高抗干擾芯片、干擾液晶屏幕和數(shù)字化控制電路,使儀器高壓輸出更±(0.1kv+3%讀數(shù))、可以根據(jù)防腐涂層的材料和厚度自動(dòng)輸出合適的測量電壓、菜單操作更加智能化人性化。
更新時(shí)間:2025-07-03
土工膜泄漏檢測儀
土工膜泄漏檢測儀適用于垃圾填埋場滲漏破損檢測、尾礦庫壩體滲漏破損檢測、景觀湖滲漏破損檢測、水產(chǎn)養(yǎng)殖池滲漏破損檢測、污水存儲池滲漏破損檢測等施工防漏檢測.
更新時(shí)間:2025-07-03
LED工業(yè)射線底片觀片燈
kodin g2000a型 led工業(yè)射線底片觀片燈適用于工業(yè)射線照相底片的觀察。
更新時(shí)間:2025-07-03
便攜式智能里氏硬度計(jì)
1.圖表模式,可以查看工件的每個(gè)測量點(diǎn)硬度大小,把數(shù)據(jù)分析和硬度波動(dòng)分布圖集于一體,工件硬度大小一目了然。2.報(bào)告模式,把測量工件的名稱、圖片、數(shù)據(jù)、測量設(shè)置信息、日期等信息以報(bào)告的形式實(shí)時(shí)分析,并可以分享給異地的合作伙伴。3.視頻通話模式,異地的測量過程通過視頻或者音頻的方式實(shí)時(shí)交互,可以令監(jiān)控中心的管理人員進(jìn)行遠(yuǎn)程管理、同步交流、專家診斷。
更新時(shí)間:2025-07-03
個(gè)人劑量報(bào)警儀
ray-3000a 射線報(bào)警儀是一款智能小型輻射監(jiān)測儀器,主要用于監(jiān)測 x射線和γ射線,該儀器功耗低、靈敏度高、性能穩(wěn)定、操作簡單、體積小,可以佩戴也適合放入口袋。同時(shí)采用新型單片機(jī)技術(shù),具有超強(qiáng)的抗干擾能力,可在較惡劣環(huán)境下工作 。
更新時(shí)間:2025-07-03
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-03
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-03
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備,這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時(shí),pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2025-07-03
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-07-03
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個(gè)處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個(gè)是type00h配置請求,另個(gè)是type 01h配置請求。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代,工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí),工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-07-03
fixturlaser飛翔AT-100激光對中儀瑞典AT-100現(xiàn)貨原裝
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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
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