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兩種測量方式:連接探頭，rm-723即可為您實現接觸式測量，幫助您應對更多環(huán)境。 使用方便:rm-72x是高品質高性價比手持式儀器，體積小巧、結構緊湊，使用及攜帶方便靈活，單手即可操作。即可手持測量也可固定使用。
更新時間:2025-08-11
* 工業(yè)振動探測應用 (所有的工業(yè)機器都會振動。振動幅度可以反映機器的情況。平衡性差，定位不準，零件的松動都會造成振動的增加，這就表示機器需要維修。)
更新時間:2025-08-11
mc-2000d型涂（鍍）層測厚儀 鋼結構防火層測厚儀1、測量范圍： 10~9000um2、測量誤差： <3%±1um3、小示值： 1um4、顯示方式： 4位液晶數字顯示
更新時間:2025-08-11
ray-3000a個人劑量報警儀（射線報警儀）是一款便攜式小型儀器，利用新型單片機技術制作而成，可在較惡劣環(huán)境下工作，具有抗干擾力，主要用來檢測χ射線和γ射線，從漢顯液晶屏能直接讀出射線“劑量率”；射線“累積劑量”。
更新時間:2025-08-11
ssgh-1型牛頓環(huán)實驗裝置實驗內容：1、觀測牛頓環(huán)干涉現象2、用牛頓環(huán)測量平凸透鏡曲率半徑基本配置及參數：編號名稱規(guī)格件數1鈉燈低壓鈉燈，功率20w1套2低壓鈉燈電源220v，50hz1套3牛頓環(huán)牛頓環(huán)平凸透鏡
更新時間:2025-08-11
yyu-25/100電子引伸計引伸計結構及工作原理 ：應變片、變形傳遞桿、彈性元件、限位標距桿、刀刃和夾緊彈簧等。測量變形時, 將引伸計裝卡于試件上, 刀刃與試件接觸而感受兩
更新時間:2025-08-11
iia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種三目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質量，以及7x-180x連續(xù)改變放大倍率等特點。操作簡單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術、巖礦分析
更新時間:2025-08-11
ia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種雙目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質量，以及7x-225x連續(xù)改變放大倍率等特點。操作簡單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術、巖礦分析、
更新時間:2025-08-11
德國美翠mi2127精密接地電阻測試儀/土壤電阻率儀（二、三、四線法測量接地電阻和土壤電阻率） 采用傳統的打地樁方式來測量接地電阻，可用二、三、四線法，可測量
更新時間:2025-08-11
axd610、axd620微壓計（美國alnor）儀器介紹：axd610和620微壓計使您在hvac的壓力測試更加簡單。這些結實耐用的儀器可以使用皮托管測量風管內風速。axd610手持式數
更新時間:2025-08-11
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-08-08
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6（a/b）型電火花檢漏儀檢測厚度:0.05～10mm，輸出電壓:0.6kv～30kv,dj-6(a)檢測厚度：0.03～1.5mm，輸出高壓：600v～8000v 是用于檢測金屬防腐涂層質量的專用儀器，使用本儀器可以對不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層，進行質量檢測。
更新時間:2025-08-08
美國lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國lee公司新出的新一代粗糙度儀，也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點，可以廣泛應用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測，該粗糙度儀是傳感器主機一體化的袖珍式粗糙度儀，具有手持式特點，更適宜在生產現場使用。外形采用拉鋁模具設計，堅固耐用，抗電磁干擾能力顯著，符合當今設計新趨勢。
更新時間:2025-08-08
商品名稱：低阻抗率計 mcp-t370型 (手提式)loresta-ax特色：維持安定之高質量，依據之四探針理論之高精度之阻抗率計操作簡單，現場使用攜帶型方便，用于生產技術、質量管理測定范圍：10-2～106ω資料輸出：usb memory體積：約 228 w× 85 d× 65 hmm, 420g標準配備
更新時間:2025-08-08
城市道路積水監(jiān)測系統是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產，可以及時避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經濟損失。
更新時間:2025-08-08
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-08-07
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-08-07
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-08-07
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-08-07
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-08-07
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗
更新時間:2025-08-07
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-08-07
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-08-07
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-08-07
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-08-07
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統是小端，不是大端系統。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-08-07
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-08-07
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-08-07
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-08-07
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-08-07
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-08-07
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-08-07
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-08-07
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-08-07
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-08-07
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-08-07
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數及帶寬不好控制。
更新時間:2025-08-07
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-08-07
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數據存取等功能。
更新時間:2025-08-07
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-08-07
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現卡的初始化和數據訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-08-07
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-08-07
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